Advantest Corporation mettra en avant ses toutes dernières solutions de test pour semi-conducteurs lors du SEMICON West 2025, qui se tiendra du 7 au 9 octobre au Phoenix Convention Center, à Phoenix, Arizona. L'entreprise exposera son large éventail de technologies de test destinées à des applications telles que l'intelligence artificielle (IA) et le calcul haute performance (HPC), la 6G, l'automobile et la mémoire.
Par ailleurs, Advantest est un fier sponsor du Test Vision Symposium et du programme de développement des compétences (Workforce Development) de cette année, et poursuivra sa participation au Semiconductor Climate Consortium (SCC) de SEMI en tant que membre fondateur.
Points forts des produits et solutions : Solutions de test pour dispositifs IA/HPC, incluant le système de test SoC V93000 EXA Scale, l'opérateur de niveau puce HA1200 doté d'une technologie unique de contrôle thermique actif, ainsi que le système de test DRAM ultra-haute vitesse T5801, conçu pour prendre en charge les dernières avancées en matière de technologies de mémoire rapide, telles que GDDR7, LPDDR6 et DDR6. SiConic™, une solution évolutive pour la validation automatisée du silicium.
Conçue pour répondre à la complexité croissante des systèmes sur puce (SoC) avancés, SiConic permet aux ingénieurs en vérification de conception (DV) et en validation du silicium (SV) d'accélérer la validation avec une fiabilité, une efficacité et une collaboration inégalées. Les plateformes de test au niveau système (System-Level Test) d'Advantest offrent une couverture structurale rentable (SCAN, MBIST, LBIST, etc.) via des interfaces d'E/S haut débit, avec une large gamme d'options de contrôle thermique actif, dont le nouveau 7038 Single Test Rack (STR) qui propose des solutions de burn-in et de test système à moindre coût et encombrement, idéales pour les dispositifs à forte puissance et grand format. Les capacités du système de test V93000 sont également étendues afin de prendre en charge la production à grande échelle de dispositifs de photonique sur silicium et d'optiques co-intégrées, grâce à un partenariat avec FormFactor.
L'infrastructure de données en temps réel ACS (ACS RTDI™) est une plateforme qui automatise la conversion des analyses en actions de production exploitables en quelques millisecondes lors du même passage de test, optimisant ainsi le rendement, la qualité et le délai de mise sur le marché. L'équipement de test de puissance CREA couvre une grande variété de dispositifs de puissance, incluant les tests de puissance SiC et GaN sur wafer, puce unique, substrat, PKG et module, généralement utilisés dans les applications industrielles et automobiles. Les systèmes de test SoC T2000 avec Rapid Development Kit (RDK) sont adaptés à tous les SoC, y compris l'automobile et l'analogique de puissance, et les solutions de test IP Engine 4A offrent le traitement d'image le plus rapide pour réduire le temps et les coûts de test CIS.
En plus de son exposition produits, Advantest participera au Test Vision Symposium les 8 et 9 octobre. L'entreprise proposera plusieurs présentations sur de nombreux sujets d'actualité, notamment l'assemblage avancé, l'analyse de données, l'utilisation de l'IA et du ML dans le test, les optiques co-intégrées et la photonique sur silicium. Pour plus de détails, veuillez consulter le programme des sessions.
