Advantest Corporation présentera plus d'une douzaine de ses derniers produits et services au salon SEMICON Japan, du 14 au 16 décembre à Tokyo. Sous le thème Au-delà de l'horizon technologique, l'exposition d'Advantest présentera ses contributions à l'accélération du développement de technologies de test révolutionnaires, notamment l'IA, le calcul haute performance (HPC), les technologies basées sur le cloud et les circuits intégrés haute puissance. En plus de présenter des technologies de test avancées, Advantest mettra également en avant ses initiatives et plans d'action ESG.

Exposition : L'exposition de produits de l'entreprise sur le stand n° 1549, situé dans le hall Est 1, démontrera comment l'entreprise ajoute de la valeur client à la chaîne de valeur évolutive des semi-conducteurs grâce à diverses solutions et services de test. Les expositions de cette année comprendront : NOUVEAU : inteXcell, la toute première infrastructure de test unifiée et entièrement intégrée permettant de combiner le testeur T5835 dans des cellules de test à encombrement minimal, idéales pour les tests finaux des circuits intégrés de mémoire avancés ; NOUVEAU : microscope électronique à balayage d'examen des défauts E5620 (DR-SEM) pour l'examen et la classification de précision des défauts de photomasques ultra petits ; NOUVEAU : carte universelle VI et d'alimentation XPS128+HV pour le système de test de SoC V93000 EXA Scale qui réduit le coût du test des circuits intégrés de gestion de l'énergie et d'autres dispositifs haute tension ; NOUVEAU : Module numériseur multicanal HP LCD qui répond aux demandes de mesures de haute précision et de haute tension pour le test des circuits intégrés de pilotage d'écran émergents lorsqu'il est combiné au testeur de SoC T6391 ; systèmes de test de SoC T2000 avec amélioration de la convivialité du kit de développement rapide (RDK), qui accélère le développement de programmes de test pour tous les SoC, y compris les applications automobiles et analogiques de puissance complexes ; NOUVEAU : Les systèmes de test de lecteurs à l'état solide (SSD) MPT3000 répondant aux exigences de test associées aux SSD PCI Express de cinquième génération (PCIe Gen 5), Compute Express Linko (CXLo) et NVMe ; Test au niveau de la puce pour les boîtiers 2.5D et 3D avec une technologie d'alignement précis des puces ; écosystème ouvert ACS permettant l'accès aux données en continu et l'analyse en temps réel avec un logiciel de test intégré et une surveillance et un contrôle du matériel pour améliorer le rendement, la qualité et la capacité des dispositifs à semi-conducteurs ; solutions et services logiciels, y compris CONNECT+ et Adaptive Enquête Cleaning.