Advantest Corporation a lancé son interface DUT Scale Duo pour les systèmes de test SoC V93000 EXA Scale, permettant le plus haut niveau de parallélisme de l'industrie pour tester les semi-conducteurs avancés. Grâce à cette interface révolutionnaire, l'espace utilisable sur les cartes de l'objet sous test et les cartes de sonde est augmenté de 50 % ou plus, tandis que les installations de sonde sur wafer et de test final peuvent s'adapter à des hauteurs de composants plus de trois fois supérieures. Dans les environnements de test actuels, le nombre de dispositifs pouvant être testés en parallèle est le plus souvent limité par l'espace disponible pour les composants sur la carte de sonde ou la carte DUT, et non par les ressources disponibles du testeur.

Avec les segments de marché à croissance rapide, notamment l'automobile, les appareils mobiles et les appareils RF, qui tendent vers un nombre plus élevé de sites, le besoin d'espace supplémentaire sur les cartes DUT pour le test des circuits intégrés devient critique. En outre, les testeurs de wafers et les manipulateurs de tests finaux de pointe ont besoin de plus d'espace sur les cartes de circuits imprimés pour fournir les solutions les plus rentables, depuis les capacités de contact d'un seul wafer dans le sondage de wafers jusqu'aux tests finaux massivement parallèles sur 32 sites ou plus. Advantest propose la première interface pour DUT de l'industrie ayant la capacité de s'adapter soit à la taille standard existante de la carte DUT ou de la carte sonde, soit de passer à la nouvelle taille, nettement plus grande.

Grâce à un mécanisme coulissant unique, les utilisateurs peuvent passer sans effort d'un format à l'autre pour s'adapter aux exigences spécifiques des applications. Outre la nouvelle interface, un nouveau pont étendu super rigide permet d'obtenir des performances de déviation supérieures dans les configurations de sondage direct. La conception universelle de l'appareil lui confère la polyvalence nécessaire pour prendre en charge un large éventail d'applications, notamment les tests de dispositifs numériques et RF.

Grâce à ses capacités de détection sophistiquées, le pont étendu offre la meilleure planéité du secteur et un rendement de fabrication élevé, assurant un positionnement très précis et la vérification du serrage de la carte de sonde. Les performances de la nouvelle interface ont été vérifiées par des clients pilotes avant la montée en puissance du dispositif pour la fabrication en gros volume. DUT Scale Duo devrait être largement disponible d'ici le milieu de cette année.