Advantest Corporation a annoncé sa solution ACS Adaptive Probe Cleaning (APC), une première dans l'industrie, pour optimiser le cycle de nettoyage des cartes sondes avec efficacité. Faisant partie de l'écosystème de solutions ouvertes ACS d'Advantest, APC a fait ses preuves auprès de clients en Asie et en Europe. STMicroelectronics a installé la solution ACS APC sur deux de ses sites de fabrication et constate que les temps de cycle de nettoyage sont considérablement réduits pour améliorer efficacement le rendement, allonger le cycle de vie des cartes sondes et augmenter le temps disponible du système pour les tests.

Alors qu'il existe de nombreuses techniques visant à réduire le temps et le coût des tests, le coût des cartes sondes représente un nouveau défi : à mesure que le nombre de broches et la complexité fonctionnelle augmentent, le ratio des dépenses liées aux cartes sondes, tant au niveau de la maintenance que de la gestion du cycle de vie, augmente également. Généralement, les fabricants de puces mettent en œuvre une méthode de nettoyage en ligne à cycle fixe, ce qui nécessite une courbe d'apprentissage pour déterminer le compromis idéal entre le nettoyage et la perte de rendement et prend donc plus de temps dans la montée en puissance des nouveaux dispositifs et entraîne plus de pertes que nécessaire. L'ACS APC introduit l'approche d'Advantest intitulée “adaptive interval” ; pour le nettoyage des pointes de sondes.

Elle utilise des algorithmes d'intelligence artificielle (IA) pour évaluer la saleté des aiguilles et ne les nettoie que lorsque les rendements sont affectés afin de réduire drastiquement la fréquence de nettoyage. Le modèle d'apprentissage automatique prend les résultats des tests de la première plaquette avec un cycle de nettoyage préétabli pour apprendre le modèle de défaillance, puis il passe au nettoyage adaptatif pour le reste des plaquettes du même lot. L'évaluation prend un temps négligeable par wafer, sans impact sur le débit du test.

Jean-Luc Mariani, directeur des opérations et de la technologie d'EWS Europe et Chris Portelli-Hale, directeur R&D de la technologie de test, tous deux de ST Microelectronics, ont confirmé qu'ils ont installé plusieurs unités APC ACS d'Advantest pour aider à tester une variété de dispositifs complexes, et qu'ils constatent des résultats impressionnants. Ils ont noté que leurs cycles de nettoyage ont été considérablement réduits, ce qui leur a permis de diminuer de moitié les coûts de maintenance des cartes sonde et d'instaurer une gestion plus efficace des rechanges et du cycle de vie des cartes sonde.