Advantest Corporation présentera ses dernières solutions de test pour les circuits intégrés avancés au SEMICON Korea, du 1er au 3 février au COEX de Séoul, en Corée du Sud. La société mettra en avant ses contributions à la technologie de test de pointe, notamment la mémoire avancée, la 5G, l'IA, le calcul haute performance (HPC) et les nanotechnologies, ainsi que ses initiatives ESG.

Exposition : L'exposition de produits de l'entreprise sur le stand #C510 présentera la façon dont l'entreprise ajoute de la valeur client à la chaîne de valeur des semi-conducteurs en évolution grâce à sa large gamme de solutions et de services de test. Les affichages numériques de cette année comprendront : Nouveau inteXcell, toute première infrastructure de test unifiée et entièrement intégrée permettant de combiner le testeur T5835 dans des cellules de test à encombrement minimal, idéales pour les tests finaux des circuits intégrés de mémoire avancés ; Nouveau microscope électronique à balayage d'examen des défauts E5620 (DR-SEM) pour l'examen et la classification de précision des défauts de photomasques ultra petits ; Nouvelle carte universelle VI et d'alimentation XPS128+HV pour le système de test SoC V93000 EXA Scale qui réduit le coût du test pour les circuits intégrés de gestion de l'énergie et autres dispositifs haute tension ; Nouvelle interface DUT Scale Duo pour les systèmes de test SoC V93000 EXA Scale qui étend l'espace de la carte DUT pour les tests en grand volume et est compatible avec les cartes DUT existantes ; Nouveau module numériseur multicanaux LCD HP qui répond aux demandes de mesures de haute précision et de haute tension pour le test des circuits intégrés de commande d'affichage émergents lorsqu'il est combiné au testeur de SoC T6391 ; Systèmes de test de SoC T2000 avec amélioration de la convivialité du kit de développement rapide (RDK), qui accélère le développement de programmes de test pour tous les SoC, y compris les applications automobiles et analogiques de puissance complexes ; Systèmes de test de lecteurs à état solide (SSD) MPT3000 répondant aux exigences de test associées aux SSD PCI Express de cinquième génération (PCIe Gen 5), Compute Express Linko (CXLo) et NVMe.