Aehr Test Systems a annoncé avoir reçu une première commande d'un client pour un système de test et de déverminage FOX-NP et un aligneur FOX WaferPak qui seront utilisés pour les dispositifs de puissance au nitrure de gallium (GaN). Le client est un fournisseur mondial de premier plan de dispositifs semi-conducteurs utilisés dans les véhicules électriques et les infrastructures d'énergie. Il ajoute un autre client majeur à la liste des entreprises utilisant les produits FOX d'Aehr pour le test au niveau de la plaquette et le déverminage des semi-conducteurs composés à large bande interdite. La livraison et l'installation du système FOX-NP, y compris l'aligneur FOX WaferPak, sont prévues pour le trimestre fiscal en cours.

Premier client d'Aehr à commander un système pour le nitrure de gallium, cette société a choisi Aehr en partie pour sa capacité unique à offrir une solution complète qui permet aux clients d'appliquer des conditions de contraintes thermiques et électriques à des milliers de dispositifs alors qu'ils sont encore sous forme de plaquettes de silicium. La technologie de pointe d'Aehr fournit des informations de géolocalisation critiques sur la plaquette tout en provoquant des défaillances extrinsèques (en début de vie) qui se produiraient autrement sur le terrain, sans réduire la fiabilité ou la durée de vie à long terme des bons dispositifs. Aehr permet à ses clients de mettre en œuvre de manière rentable le processus de test et de qualification nécessaire pour les dispositifs semi-conducteurs qui connaissent des défaillances précoces, non seulement en appliquant les conditions de contrainte électrique à chaque dispositif sur la plaquette, mais aussi en testant jusqu'à 18 plaquettes à la fois à l'aide du système de test de production et de gravure FOX-XP.

Ces tests électriques sont effectués à l'aide de milliers d'instruments de mesure et de sources électriques calibrées et précises par plaquette. Ces tests sont effectués tout en maintenant la température à une température thermique programmée avec précision sur chacune des plaquettes en utilisant un transfert thermique par conduction directe via un mandrin thermique de précision breveté par plaquette. Le FOX-NP complète le système de production FOX-XP d'Aehr en utilisant exactement les mêmes "lames" de test que celles du FOX-XP, ce qui permet une corrélation à 100 % entre les résultats du FOX-NP et ceux du FOX-XP.

Les systèmes FOX-XP et FOX-NP, disponibles avec plusieurs contacteurs WaferPak (test complet de la plaquette) ou plusieurs supports DiePakTM (test unique de la plaquette/du module), sont capables de réaliser des tests fonctionnels et de déverminer/cycler des dispositifs tels que les semi-conducteurs de puissance en carbure de silicium et en nitrure de gallium, les composants photoniques en silicium ainsi que les composants de la technologie de l'information, la photonique au silicium ainsi que d'autres dispositifs optiques, les capteurs 2D et 3D, les mémoires flash, les capteurs magnétiques, les microcontrôleurs et d'autres circuits intégrés, soit sous forme de plaquettes, avant qu'ils ne soient assemblés dans des boîtiers empilés à une ou plusieurs puces, soit sous forme de puces isolées ou de modules.