Bruce C. Rhine ne se représentera pas à la réélection en tant que membre du conseil d'administration d'Onto Innovation Inc.

Onto Innovation Inc. se consacre à la conception, au développement, à la fabrication et à l'assistance d'outils de métrologie et d'inspection pour l'industrie des semi-conducteurs. Les produits de la société comprennent des systèmes de métrologie automatisés, des systèmes de métrologie intégrés, l'inspection et la caractérisation de toutes les surfaces des plaquettes de silicium, l'inspection des macro-défauts, la classification automatisée des défauts et l'analyse des modèles, l'analyse du rendement, la métrologie des films opaques et d'autres encore. Ses produits sont principalement utilisés par les fabricants de plaquettes de silicium, les fabricants de circuits intégrés à semi-conducteurs et les fabricants d'emballages avancés opérant sur le marché des semi-conducteurs. Ses produits sont également utilisés pour le contrôle des processus sur un certain nombre d'autres marchés de fabrication de dispositifs spécialisés, notamment les diodes électroluminescentes, les lasers à cavité verticale, les systèmes micro-électromécaniques, les capteurs d'images CMOS, les dispositifs de puissance à semi-conducteurs en silicium et composés, les dispositifs analogiques, les filtres RF, le stockage de données et certaines applications industrielles et scientifiques.