Faraday Technology Corporation a annoncé avoir collaboré avec Infineon pour développer une plateforme SONOS eFlash sur le processus 40uLP d'UMC. Cette plate-forme comprend une IP de sous-système eFlash nouvellement développée et une solution complète de test eFlash avec des fonctions d'accès aux données rapides et faciles à intégrer. Cette solution totale permet aux clients d'accélérer le développement de produits et d'utiliser plus facilement la technologie de la mémoire flash. Parallèlement, elle simplifie également les tests SONOS eFlash avec une fonction d'autotest intégrée (BIST) afin de fournir aux clients de solides avantages en termes de qualité.

Afin de répondre à la demande d'eFlash 40 nm à faible consommation et décrochée par les applications IA, smart grid, IoT et MCU, Faraday et Infineon ont développé conjointement cette plateforme SONOS eFlash. Cette plateforme contient principalement un bloc de mémoire flash, un contrôleur et le nouveau sous-système IP. Ce sous-système comprend une interface de bus essentielle, des circuits de contrôle d'horloge intégrés et des fonctionnalités supplémentaires, telles que l'initialisation automatique de l'eFlash, une procédure d'effacement/écriture simplifiée pour décharger la surcharge du CPU, une protection de lecture/écriture et un tampon d'écriture pseudo-aléatoire, pour une intégration et une utilisation transparentes de l'IP eFlash SONOS.

En outre, ce sous-système avec BIST permet de tester les puces sur des équipements de test généraux pour garantir la qualité et la fiabilité de la mémoire flash, ainsi que pour réduire le temps de test.