NI a annoncé une nouvelle initiative visant à fournir des solutions d'analyse en temps réel des semi-conducteurs à la périphérie en utilisant sa plate-forme NI Global Operations (GO, anciennement Optimal+). Ce nouveau niveau d'infrastructure et de contrôle ouvre la voie à des applications plus avancées et personnalisées développées par les utilisateurs de la plateforme, NI et même des tiers. Cette annonce s'accompagne d'une nouvelle couche d'activation au sein de l'écosystème NI GO et d'une intégration initiale avec Teradyne, l'un des principaux fournisseurs d'ATE.

Les exigences croissantes en matière de qualité, de rendement, de débit et de fonctionnalité des opérations de test des semi-conducteurs ont stimulé l'intérêt pour le développement de contrôles de test plus performants et plus réactifs. Pour y répondre, la nouvelle couche d'activation des applications en temps réel de NI Global Operations étend les capacités existantes de la plate-forme GO à des serveurs de test sécurisés et à faible latence, de sorte que les modèles d'analyse puissent être exécutés en même temps que les tests. La nouvelle couche d'activation améliore l'architecture ouverte et les capacités d'analyse robustes de NI Global Operations en ajoutant un support intégré pour les plates-formes de test ATE. Les données locales, la sécurité et les protocoles de communication, combinés aux analyses du back-end NI GO, créent une solution complète et fiable pour le contrôle en temps réel des tests de semi-conducteurs.

Le fait de commencer avec Teradyne signifie que leurs empreintes de testeurs auront accès à ces nouvelles capacités. En outre, l'architecture ouverte permettra à tous les fournisseurs et plates-formes ATE d'être pris en charge à l'avenir, d'autres annonces étant prévues à l'avenir. En travaillant directement avec les fournisseurs d'ATE, NI peut assurer un support à long terme, une collaboration et une innovation autour de ces solutions conjointes.

Ces relations sont conçues pour permettre une architecture combinée et intégrée qui utilise mieux les serveurs ATE afin d'offrir de nouvelles possibilités d'optimisation des tests de semi-conducteurs. Cela est désormais possible grâce à l'investissement accru des fournisseurs d'ATE pour soutenir leurs plates-formes de test avec des solutions sécurisées et intégrées. La solution analytique Teradyne Archimedes intègre des technologies telles que l'analyse de données, l'intelligence artificielle et l'apprentissage automatique dans les solutions de test.

Son architecture ouverte prend en charge les principaux modèles de solutions analytiques et permet un flux sécurisé de données en temps réel avec un impact quasi nul sur le temps de test, ce qui améliore la qualité, augmente le rendement et réduit les temps d'arrêt des testeurs. En tant que membre de l'écosystème Teradyne Archimedes, les modèles et applications analytiques NI GO bénéficient des ressources informatiques disponibles pour agir au plus près des activités de test, ce qui signifie que des actions et des contrôles pilotés par les données peuvent être déclenchés pendant l'exécution du test. De plus, ces modèles bénéficient des protocoles de sécurité natifs des serveurs ATE, ce qui signifie que toutes les données et la propriété intellectuelle sont suffisamment protégées.

Par conséquent, les solutions existantes, telles que le Re-binning ou le DPAT, peuvent être plus efficaces en temps réel, tout en ouvrant la voie à des solutions de nouvelle génération et de bricolage que l'on n'aurait jamais cru possibles, telles que la détection de dérive. Ce développement de NI est plus qu'une simple contribution aux récents changements industriels dans l'écosystème du test et de l'analyse des semi-conducteurs. Il complète l'ensemble du pipeline d'analyse, du testeur à la périphérie en passant par le cloud et inversement.

Cela signifie que les modèles en temps réel basés sur l'ATE ne sont pas isolés ou stagnants. Ils sont alimentés par un écosystème analytique plus large qui connecte tous les testeurs et salles de test, internes et externes, à une instance unique de big data, permettant un apprentissage plus approfondi pour des informations plus percutantes et mises à jour en permanence. En outre, les serveurs GO Edge servent de centre de gestion des modèles et des applications pour garantir que les modèles en temps réel sont déployés, mis à jour, suivis et supprimés de manière efficace.

En combinant le contrôle en temps réel avec un backend analytique complet et adaptatif, les solutions NI GO + ATE sont conçues pour être les capacités de contrôle de test les plus impactantes du marché.